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Nexview™ Optisches 3D-Oberflächenprofilometer

Das NexView optische
3D-Oberflächenprofilometer
ermöglicht die Messung unterschiedlichster Oberflächen –
von extrem glatten bis hin
zu sehr rauen – mit einer
Genauigkeit im Sub-Nano-meterbereich, und zwar
unabhängig vom Sichtfeld
bzw. Objektiv.
Nexview™ Logo

Nexview Optisches 3D-Oberflächenprofilometer

Siliziumkarbid-Spiegel: Auch kristalline
Kornstrukturen oder bei der Verarbeitung
entstandene Fingerabdrücke können erkannt werden.

3D Einzelheit einer U.S.-amerikanischen  25-Cent-Münze

3D Einzelheit einer U.S.-amerikanischen 25-Cent-Münze

Mx-Software-Bildschirm

Mx-Software-Bildschirm
(zum Vergrößern auf das Bild klicken)

Messung eines 120°-Kegels

Messung eines 120°-Kegels

3D Mit einem Diamant-Drehmeißel bearbeitete Optik

Mit einem Diamant-Drehmeißel bearbeitete Optik

Automatisierter, integrierter 200-mm-Probentisch

Automatisierter, integrierter 200-mm-Probentisch

Das nach ISO 25178-604 Teil D arbeitende Messgerät erlaubt die Messung von Ebenheit, Rauheit, großen Stufen und Segmenten, dünnen Schichten und großen Steigungen mit Merkmalshöhen von unter 1 nm bis zu 20000 µm.

Kompromisslos – ein Profilometer, das sich für alle Oberflächentypen von rau bis extrem glatt eignet, einschließlich dünner Schichten, hoher Steigungen oder großer Stufen.

Prüfmittelfähig – hervorragende Genauigkeit und Wiederholbarkeit auch für anspruchsvollste Anwendungen in der Fertigung.

Spezielle SureScan™ oder SmartPSI™ Technologie – stabiler Betrieb in praktisch allen Umgebungen auch ohne Schwingungsisolation oder im Sub-Ångström Bereich.

• Oberflächenparameter nach ISO 25178.

Komplett neue graphische Analyse- und Bediensoftware – verbesserte Funktionalität bei geringerem Schulungsaufwand.

Optimierte Konstruktion – keine manuellen Bedienelemente; vollständige Automatisierung möglich.

Sie brauchen nur noch ein einziges Profilometer

Sie benötigen kein spezielles Profilometer mehr für jede zu messende Oberfläche: Das Nexview-Profilmeter misst die Topographie praktisch jeder Oberfläche, angefangen von superpolierten optischen Oberflächen mit Oberflächenrauheiten im Sub-Ångström-Bereich bis hin zu steilen, maschinell bearbeiteten Winkeln bis 85 Grad. Die Messungen erfolgen berührungslos in 3D und vereinen die Vorzüge anderer Profilmesstechnologien (abtastend, konfokal, Fokusvariation), ohne dass dabei die Nachteile dieser Technologien in Kauf genommen werden müssen.

Neu entwickelte Analyse- und Steuerungssoftware

Das NexView-Profilometer nutzt die komplett neu entwickelte Mx™-Software für die gesamte Systemsteuerung und Datenanalyse, mit leistungsstarken 3D-Maps, quantitativen Topographie-Angaben, intuitiver Navigation während der Messung sowie integrierter statistischer Prozess-steuerung mit Statistiken, Kontrollkarten und OK/NOK-Grenzwerten.

Interaktive 3D -Diagramme – Zoomen, Schwenken, und Aktualisieren der Ergebnisse in Echtzeit.

Flexible Analysen – ein breites Spektrum quantitativer Ergebnisse, Datenansichten und Filtern steht zur Verfügung.

Erweitertes Analysetool bietet einen frei definierbaren Layoutbereich für die Analyse, Bearbeitung und den Vergleich von Messungen.

Intuitiv bedienbare Benutzerschnittstelle mit auf dem Workflow basierter Konzeption vereinfacht die Einarbeitung und Schulung.

Frei konfigurierbare Werkzeugleisten sind benutzerspezifisch anpassbar und können entsprechend ihrem Arbeitsablauf positioniert werden.

Für spezielle Anwendungen stehen zusätzliche Anwendungsmodule zur Verfügung, die spezielle Anforderungen abdecken, z.B. Messungen bei Vorhandensein transparenter Schichten oder 2D-Bildanalyse.

Automatisierter Betrieb

Das NexView-Profilometer ist ein komplett computergesteuertes Tool ohne manuelle Bedien-elemente, d.h. das System kann mit Hilfe von vorprogrammierten Abläufe für die Messung mehrerer Werkstücksegmente, die rezepturbasierte Messung von Teilen in einer Ablage oder das Zusammensetzen großen Flächen eines Werkstücks zu einer einzigen Messung automatisiert werden.

Elegantes, optimiertes Design

Das NexView-Profilometer bietet einen großzügigen Arbeitsbereich mit klaren Sichtlinien zum einfachen und schnellen Einrichten und Umrüsten.

Der neu konzipierte, automatische, integrierte 200-mm-Probentisch ist ein Muster für ein vorbildliches, sauberes industrielles Design. Kennzeichen des Probentisches ist eine integrierte für hohe Belastungen ausgelegte ±4°- Kippvorrichtung mit parazentrischer Korrektur – dies vereinfacht die Justage der Messfläche, auch bei Proben ohne klare Erkennungsmerkmalen.

Vorführung vereinbaren
Mit dem Formular unten können Sie zusätzliche Informationen anfordern oder einen Termin für eine Vorführung des NexView-Profilometers bzw. die Einsendung von Proben für eine kostenlose Analyse vereinbaren.

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