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Optische 3D Profiler ZeGage™ ZeGage™ Plus NewView™ 7300 NewView™ 8000 Nexview™ Nomad™  New! APM650™  New! NewView™ MPT


ZeGage™ Plus Optisches 3D-Oberflächen-Profilometer mit Sub-Nanometer-Präzision

ZeGage Plus Optical Profiler System
Mx software - analysis and control for the Nexview profiler
Mx-Software-Bildschirm
(zum Vergrößern auf das Bild klicken)

Key Features:

• 20fach verbesserte Wiederholgenauigkeit gegenüber ZeGage.

• 2fach schnellere vertikale Scanrate gegenüber ZeGage.

• Messung aller Oberflächen von rau bis extrem glatt.

• Erschütterungsresistent für Anwendungen in Fertigung und Prozesssteuerung.

Der neue Profiler ZeGage Plus erweitert die Möglichkeiten des ZeGage durch noch größere Präzision, schnellere Messgeschwindigkeit und eine noch größere Auswahl an messbaren Oberflächen. Gleichzeitig bleiben die gewohnte einfache Bedienbarkeit, Erschütterungsresistenz und die kompakte Größe erhalten.

Der ZeGage Plus Profiler erlaubt Messungen an einer noch größeren Zahl an Oberflächen - von sehr rau bis extrem glatt, bei Sub-Nanometer-Präzision und unabhängig vom Sichtfeld. Die Oberflächenbeschaffenheit kann variieren zwischen geschliffen, geläppt, poliert sowie super-poliert an Materialien wie Glas, Keramik und Metall.

ZeGage Plus scannt bis zu zweimal so schnell wie ZeGage. So werden Daten schneller bereitgestellt und der Datendurchsatz für Fertigungsmesstechniken erhöht. Dadurch eignet es sich besonders für Hochgeschwindigkeits-Formmessungen.

Wie beim ZeGage Profilometer ermöglicht die interaktive Mx™ -Software eine einfache und detaillierte Visualisierung der Messung für die Prozesskontrolle. Informieren Sie sich bei uns darüber, wie Ihre Anwendung vom ZeGage Plus profitieren kann.

Leistungsstark

  • Die eigene, berührungslose Messtechnologie ist vibrationsunempfindlich und macht die Verwendung eines schwingisolierten Tisches für die meisten Anwendungen überflüssig.
  • Ermittlung der Prüfmittelfähigkeit durch quantitative, bis in den Sub-Nanometer-Bereich präzise Oberflächenmesstechnik.
  • Übereinstimmung mit 2D- sowie 3D-Standards und Oberflächenrauheitsparametern nach DIN ISO 25178.
  • Hochauflösender Bildsensor mit 1 Million Pixel liefert mit sekundenschnellen Flächenmessungen hervorragende Oberflächendetails und Oberflächendarstellungen.
  • Integrierter Autofokus und Fokussierhilfe erleichtern das Einlegen der Prüflinge und verringern den Bedienereinfluss.
  • Vollautomatisierte Messsequenzen und die Möglichkeit, Messfelder zusammenzufügen, erlauben die hochaufgelöste Analyse auch großer Flächen. (Nur mit optionalem motorisierten Probentisch)

Vielseitig

  • Messung von unterschiedlichen Oberflächenmaterialien und -parametern von rau bis extrem glatt, inklusive hoher Steigungen und großer Stufen.
  • 2D- und 3D-Charakterisierung von Oberflächenstruktur, -form, Stufenhöhe und mehr.
  • Berührungslose Messtechnologie verhindert Beschädigung der Prüflinge.
  • Vergrößerung und Sichtfeld frei wählbar mit einer Vielzahl von Abbildungs- und Systemoptionen.
  • Dazugehörige Mx-Software stellt umfangreiche Tools zur Darstellung und Analyse von Oberflächendaten sowie Messberichte zur Verfügung. Die flächenbasierten Messungen sind unabhängig von der Probenorientierung.

Rentabel

  • Günstiges Preis-Leistungsverhältnis im Vergleich zu alternativen Systemen, z. B. Profilometer mit mechanischem Taster.
  • Vibrationsunempflindliche SureScan™ Technologie erlaubt die unkomplizierte Aufstellung an jedem beliebigen Standort.
  • Das berührungslose Verfahren spart die Wiederbeschaffungskosten für Hilfsmittel.
  • Vereinfachte Messergebnisse bei niedrigen Schulungs- und Wartungskosten.
  • Leistungsstarke, langlebige LED-Lichtquelle garantiert störungsfreien Betrieb über viele Jahre.
  • Keine zusätzlichen Hilfsmittel für Messungen notwendig.
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